集值映射的Henig有效次微分及其穩(wěn)定性

該文在賦范線(xiàn)性空間中對(duì)集值映射引入錐-Henig有效次梯度和錐-Henig有效次微分的概念.借助凸集分離定理證明了錐-Henig有效次微分的存在性,并且建立了線(xiàn)性泛函為錐-Henig有效次梯度的允要條件.最后,對(duì)于一類(lèi)參數(shù)擾動(dòng)集值優(yōu)化問(wèn)題討論了其在Henig有效意義下的穩(wěn)定性.

作 者： 余國(guó)林 劉三陽(yáng) Yu Guolin Liu Sanyang   作者單位： 余國(guó)林,Yu Guolin(西安電子科技大學(xué)應(yīng)用數(shù)學(xué)系,西安,710071;北方民族大學(xué)信息與系統(tǒng)科學(xué)研究所,銀川,750021)

劉三陽(yáng),Liu Sanyang(西安電子科技大學(xué)應(yīng)用數(shù)學(xué)系,西安,710071) 

刊 名： 數(shù)學(xué)物理學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： ACTA MATHEMATICA SCIENTIA  年，卷(期)： 2008 28(3)  分類(lèi)號(hào)： O221  關(guān)鍵詞： 集值映射   Henig有效性   次微分   穩(wěn)定性  

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