直接熱氧化制備氧化鈦薄膜電極的研究Ⅰ. 制備、結構和電化學性質

采用原子力顯微鏡、 X光衍射儀、電化學阻抗譜等手段對熱氧化制備氧化鈦膜的結構和電化學性質進行了研究.結果表明,金屬鈦直接熱氧化制備的薄膜為金紅石型二氧化鈦薄膜;隨氧化溫度升高和時間延長,薄膜結晶度逐漸增大;隨氧化溫度升高,二氧化鈦平帶電位向負方向移動;當溫度大于600℃后,二氧化鈦結晶致密,電子導電性減小.

作 者： 冷文華 張昭 成少安 張鑒清 曹楚南   作者單位： 浙江大學玉泉校區化學系,杭州,310027  刊 名： 化學物理學報  ISTIC SCI PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS  年，卷(期)： 2001 14(6)  分類號： O641  關鍵詞： 氧化鈦   熱氧化   電化學阻抗  

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