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FTIR和XPS對沸石合成特性及Cr(Ⅲ)去除機制的譜學表征
摘要:以粉煤灰為原料,采用優化的水熱晶化法合成沸石,使用XRD,SEM和ξ電位分析沸石產品的組成特性,借助FTIR和XPS等揭示廢水中Cr(Ⅲ)的去除機制.合成產品主要為NaP1型沸石,在pH值8~12區間內,ξ電位由-8.72 mV降到-24.46 mV.準二級方程和Langmuir等溫線對試驗的擬合效果更好,理論飽和吸附量為33.557 0 mg·g-1.FTIR圖譜表明-OH和Si-O類官能團在反應過程中有重要貢獻.XPS全譜發現:結合能576.45 eV為Cr(2p3/2)的特征峰,揭示了吸附過程的有效性.吸附Cr(Ⅲ)后,沸石中Si-Si和Si-O對應的結合能增加了0.25和0.60 eV,含Si官能團可能與Cr(Ⅲ)發生了配位反應.O(1s)的結合能在反應后變得更低.這些證據表明:沸石對Cr(Ⅲ)的去除過程是物理吸附和化學吸附共同作用的結果. 作者: 范春輝 馬宏瑞 花莉 王家宏 王海軍 Author: FAN Chun-hui MA Hong-rui HUA Li WANG Jia-hong WANG Hai-jun 作者單位: 陜西科技大學資源與環境學院,陜西西安,710021 期 刊: 光譜學與光譜分析 ISTICEISCIPKU Journal: Spectroscopy and Spectral Analysis 年,卷(期): 2012, 32(2) 分類號: O657.3 X773 關鍵詞: 合成沸石 Cr(Ⅲ) 粉煤灰 FTIR XPS 機標分類號: TQ3 TE3 機標關鍵詞: FTIR XPS 合成沸石 合成特性 去除機制 譜學表征 飽和吸附量 結合能 吸附過程 官能團 配位反應 ξ電位 水熱晶化法 組成特性 物理吸附 擬合效果 化學吸附 共同作用 反應過程 電位分析 基金項目: 國家自然科學基金,陜西省自然科學基金,陜西科技大學博士科研啟動基金 FTIR和XPS對沸石合成特性及Cr(Ⅲ)去除機制的譜學表征[期刊論文] 光譜學與光譜分析 --2012, 32(2)范春輝 馬宏瑞 花莉 王家宏 王海軍以粉煤灰為原料,采用優化的水熱晶化法合成沸石,使用XRD,SEM和ξ電位分析沸石產品的組成特性,借助FTIR和XPS等揭示廢水中Cr(Ⅲ)的去除機制.合成產品主要為NaP1型沸石,在pH值8~12區間內,ξ電位由-8.72 mV降到-24.46 mV.準二...【FTIR和XPS對沸石合成特性及Cr(Ⅲ)去除機制的譜學表征】相關文章:
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