用電子散斑干涉法進行結構內部微小缺陷檢測的研究

本文應用電子散斑干涉法和相移技術對結構內部缺陷測試進行了試驗研究,研究中采用氣壓加載,獲得了相同氣壓載荷作用下不同試件的變形圖,由此計算得到的結果表明,有缺陷的試件和無缺陷的試件在相同的氣壓載荷作用下變形不同,同時,相同載荷作用下,缺陷尺寸不同時,試件的變形不同.該試驗證明了電子散斑干涉法在研究結構內部缺陷在氣壓載荷作用下的微小變形的有效性,進一步對缺陷影響的定量研究將為預知缺陷的尺寸及位置,結構的安全和檢測提供幫助,同時將該方法應用進一步的推廣和改進,將為結構無損檢測提供依據.

作 者： 楊國標 吳愧 章彰 陸鵬 YANG Guo-biao WU Kui ZHANG Zhang LU Peng   作者單位： 楊國標,吳愧,章彰,YANG Guo-biao,WU Kui,ZHANG Zhang(同濟大學,航空航天與力學學院,上海,200092)

陸鵬,LU Peng(中船重工711研究所,上海,200433) 

刊 名： 力學季刊  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE QUARTERLY OF MECHANICS  年，卷(期)： 2008 29(3)  分類號： O348.11  關鍵詞： 電子散斑干涉   氣體壓力   微小變形   缺陷檢測   相移技術  

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