透鏡補償檢驗的研究與分析

為了方便透鏡補償器的設計,從三級像差理論出發,推導出了求解透鏡補償檢驗二次曲面的初始結構參量之間關系的數學表達式.通過分析發現這些公式不僅包括了前人提出的補償檢驗二次曲面的方法,也包括了以前沒有提出過的方法.這些透鏡補償器既可以檢驗二次曲面,又可以檢驗高次曲面.用所提出的方法設計了一套補償器,結果顯示,當軸上波差1/108個波長,軸外波差1/13個波長時,該補償器完全能夠應用于實際中.

作 者： 付聯效 吳永剛 郝沛明 王鵬 FU Lian-xiao WU Yong-gang HAO Pei-ming WANG Peng   作者單位： 付聯效,吳永剛,郝沛明,FU Lian-xiao,WU Yong-gang,HAO Pei-ming(同濟大學,精密光學工程技術研究所,上海,200092)

王鵬,WANG Peng(中科院上海技術物理研究所,上海,200083) 

刊 名： 光子學報  ISTIC PKU 英文刊名： ACTA PHOTONICA SINICA  年，卷(期)： 2007 36(11)  分類號： O435.2  關鍵詞： 三級像差理論   補償檢驗   二次曲面  

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