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La摻雜濃度對PLZT薄膜紅外光學性質的影響
采用溶膠-凝膠法在Pt/Ti/SiO2/Si襯底上制備了不同La摻雜濃度PLZT(x/40/60)薄膜. x射線衍射分析表明制備的PLZT(x/40/60)薄膜是具有單一鈣鈦礦結構的多晶薄膜. 通過紅外橢圓偏振光譜儀測量了波長為2.5-12.6μm范圍內PLZT薄膜的橢偏光譜,采用經典色散模型擬合獲得PLZT薄膜的紅外光學常數,同時也擬合獲得PLZT薄膜的厚度. 隨著La摻雜濃度的增大,折射率逐漸減小. 而消光系數除PLZT(4/40/60)薄膜外,呈現逐漸增大的趨勢. 分析表明這些差異主要與PLZT薄膜的結晶性,如晶粒尺寸,以及顆粒邊界、形貌、電子能帶結構有關. 通過計算得到PLZT薄膜的吸收系數大于PZT薄膜的吸收系數. 隨著La摻雜濃度的增大,靜態電荷值逐漸減小. 這說明在PLZT中,電荷的轉移是不完全的,它屬于離子-共價混合的化合物.
作 者： 胡志高 石富文 黃志明 王根水 孟祥建 林鐵 褚君浩 作者單位： 中國科學院上海技術物理研究所紅外物理國家重點實驗室,上海,200083 刊 名： 物理學報 ISTIC SCI PKU 英文刊名： ACTA PHYSICA SINICA 年，卷(期)： 2003 52(7) 分類號： O4 關鍵詞： PLZT薄膜 紅外光學性質 紅外橢圓偏振光譜【La摻雜濃度對PLZT薄膜紅外光學性質的影響】相關文章：
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