磁浸沒透鏡的寬束曲軸像差分析的微分代數方法研究

微分代數是計算機數值分析領域中的一個非常有效的方法,可以實現任意高階微分的準確計算.本文根據微分代數方法的基本原理,將其引入到磁浸沒透鏡的寬束曲軸像差的分析計算中,得到了任意階曲軸像差的微分代數表達式.文中針對軸上磁場具有某種解析表達式的一個實際的磁浸沒透鏡系統,利用微分代數的曲軸像差分析方法,計算了它的曲軸像差,并給出了全部二階和三階幾何像差的分布圖形.

作 者： 程敏 唐天同 姚振華 王振華   作者單位： 西安交通大學電子與信息工程學院,陜西西安,710049  刊 名： 電子學報  ISTIC EI PKU 英文刊名： ACTA ELECTRONICA SINICA  年，卷(期)： 2002 30(6)  分類號： O463.1  關鍵詞： 微分代數   磁浸沒透鏡   曲軸像差  

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