用表面磁光克爾原理測量薄膜材料的磁性參數

以表面磁光克爾原理為機理,測量薄膜材料的磁性參數,實驗上求得了飽和狀態下坡莫合金的克爾偏轉角,并測出了其磁滯回線.

作 者： 祁建霞 QI Jian-xia   作者單位： 西安郵電學院,應用數學與應用物理系,陜西,西安,710121  刊 名： 大學物理  PKU 英文刊名： COLLEGE PHYSICS  年，卷(期)： 2009 28(9)  分類號： O441.6  關鍵詞： 表面磁光克爾效應   磁滯回線   克爾旋轉角  

【用表面磁光克爾原理測量薄膜材料的磁性參數】相關文章：

磁光材料的典型效應及其應用04-26

電鍍電流參數在線測量04-25

用激光超聲技術檢測與表征鍍層材料參數04-26

分子束外延生長液晶光閥用ZnSxSe1-x薄膜的研究04-27

CoFe2O4/TiO2納米復合薄膜的制備與磁性04-26

基于參數空間的表面數值網格生成方法研究04-27

新型聲表面波器件中氧化鋅薄膜的研制04-26

電弧加熱發動機參數的測量技術04-26

磁性萃取劑高梯度磁分離法處理酸性洗銅廢水04-27

表面效應影響的彈性條帶狀薄膜非線性尺寸相關屈曲行為04-26