微觀應力和晶粒尺寸的X射線單峰傅立葉分析法

研究了傅立葉分析法必然存在"hook"效應的原因,提出解決此效應的方法,進而利用假設函數的方法,把推理嚴謹的多峰傅立葉分析法簡化成單峰分析法.此方法引入參數m,不但能指出誤差大小,而且能自動修正誤差.單峰傅立葉分析法是一種簡單且高精度的測定微觀應力和晶粒尺寸的方法.

作 者： 趙影 熊瑛 楊保和   作者單位： 趙影(天津理工學院自動化與能源工程學院)

熊瑛,楊保和(天津理工學院光電系,天津,300191) 

刊 名： 光電子·激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER  年，卷(期)： 2003 14(2)  分類號： O766+.3  關鍵詞： X射線   Voigt函數   "hook"效應   微觀應力   晶粒尺寸   單峰傅立葉分析法  

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