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Nam Si7-m(m≤6)團簇的結(jié)構(gòu)和電子性質(zhì)的密度泛函理論研究
采用密度泛函理論(DFT)在B3LYP/6-311+G(d)水平上,對NamSi7-m(m≤6)團簇的最低能量結(jié)構(gòu)和電子性質(zhì)進行了研究.結(jié)果表明:m≤4時,團簇的穩(wěn)定結(jié)構(gòu)傾向于Na原子附著在帶負電的Si7-m結(jié)構(gòu)的不同位置上,Na原子成分較多時(m≥4)混合團簇的穩(wěn)定幾何結(jié)構(gòu)發(fā)生較大的變化,且團簇中Nam的結(jié)構(gòu)與單一的Nam團簇的穩(wěn)定結(jié)構(gòu)不同;自然電荷布居分析表明,電荷從Na原子轉(zhuǎn)移到Si原子;隨著Na原子成分的增加,團簇越來越容易失去電子,且團簇的穩(wěn)定性也隨之減弱;隨著m的增加能隙出現(xiàn)振蕩,其中NasSi2的能隙最小,化學活性最強,Na2Si5的能隙最大,化學活性最弱.
羅有華,LUO You-hua(河南大學物理與電子學院,開封,475004;華東理工大學理學院,上海,200237)
刊 名: 原子與分子物理學報 ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF ATOMIC AND MOLECULAR PHYSICS 年,卷(期): 2007 24(6) 分類號: O641 關鍵詞: NamSi7-m(m≤6)團簇 密度泛函理論 結(jié)構(gòu)與性質(zhì)【Nam Si7-m(m≤6)團簇的結(jié)構(gòu)和電子性質(zhì)的密度泛函理論研究】相關文章:
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