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基于掃頻時域法測量的RCS外推技術研究
大目標的室內RCS測量不易滿足遠場條件,外推技術可將測試距離大幅度縮短,從而克服此缺陷.針對點頻連續波方法測試RCS精度很有限,致使外推結果精度不高,本文提出基于掃頻的時域法RCS外推技術.掃頻測試能得到高精度的時域測試數據,通過對時域數據進行有效的變換,獲取準確的頻域幅相信息,從而外推出較高精度的遠場RCS,實現大目標的RCS測量.通過對金屬圓柱的測試,驗證了該技術的優越性.
作 者: 李南京 許家棟 張麟兮 胡楚鋒 LI Nan-jing XU Jia-dong ZHANG Lin-xi HU Chu-feng 作者單位: 西北工業大學無人機特種技術國防科技重點實驗室,西安,710072 刊 名: 微波學報 ISTIC PKU 英文刊名: JOURNAL OF MICROWAVES 年,卷(期): 2007 23(4) 分類號: O4 關鍵詞: 雷達散射截面 時域 掃頻 外推【基于掃頻時域法測量的RCS外推技術研究】相關文章:
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