空間相機CCD焦平面的光學拼接

為滿足空間相機在大視場、高分辨率下進行測量，研究了多片線陣CCD拼接技術，闡述了光學拼接的原理、裝調、檢測方法和焦面結構。在由長工作距顯微鏡和精密X－Y導軌組成的拼接設備上，采用分光棱鏡、機械微調的方法完成了三片TDI CCD的光學拼接，搭接誤差不超過1/3像素。光學拼接具有結構簡單，成本低和使用靈活的優點。

作 者： 李朝輝 王肇勛 武克用   作者單位： 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所，吉林長春 130021  刊 名： 光學精密工程  ISTIC EI PKU 英文刊名： Optics and Precision Engineering  年，卷(期)： 2000 8(3)  分類號： V445.8  關鍵詞： TDICCD   光學拼接   焦平面  

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