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網(wǎng)易綜合筆試題
1.寫出對“知之者不如好之者，好之者不如樂之者”的理解，
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。2.用中文寫出盡可能多的中文語句，要求包含有“都”的意思（all、both之意），但不能
有“都”字
3.new/delete和malloc/free的區(qū)別，并說說你在什么情況下會自另行建立自己的內(nèi)存分配機制。
3:malloc/free:只要給出想要的內(nèi)存的長度就分配,并返加(void*)
new/delete:分配內(nèi)存同時進行類型檢測,內(nèi)置了sizeof運算,如果分配類的話,自動調(diào)用類的構(gòu)造函數(shù),delete也是,釋放內(nèi)存時調(diào)類的析構(gòu)
如果用free釋放“new創(chuàng)建的動態(tài)對象”，那么該對象因無法執(zhí)行析構(gòu)函數(shù)而可能導(dǎo)致程序出錯。如果用delete釋放“malloc申請的動態(tài)內(nèi)存 ”，理論上講程序不會出錯，但是該程序的可讀性很差。所以new/delete必須配對使用，malloc/free也一樣
在一個大的應(yīng)用程序中，內(nèi)存要不斷的分配和釋放，那樣的話隨著時間的推進，程序會越來越慢，碎片也越來越多,這時易用自己的內(nèi)存分配機制.
用GloalAlloc(在DOS下用malloc)開一個或幾個大內(nèi)存。然后寫自己的new或malloc函數(shù)。最后寫一些函數(shù)管理你的內(nèi)存.
4.求極限lim（x-[x]),x趨于-3，
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《網(wǎng)易綜合筆試題》(http://salifelink.com)。從左和從右不一樣
從左是：1
從右是：-1
5.比較兩個電路的可靠性。
6.編程題：輸入一個正整數(shù)，若該數(shù)能用幾個連續(xù)正整數(shù)之和表示，則輸出所有可能的正
整數(shù)序列。
7.有兩個字符串 str1和str2，寫一個函數(shù)實現(xiàn)在str1中查找str2的初始位置。要求不區(qū)分大小寫。
8.在字符串S中尋找最長的字符串x，條件是x存在于S中。即是如：abcabcdcd中的abc。
9.求Fibonacci數(shù)列中第k個與前面所有數(shù)互質(zhì)的數(shù)（除前面兩個數(shù) 1，1 ）。
10.有100個真幣和一個假幣，只知道真幣與假幣不等重，要求只稱兩次，得出是真幣重還是假幣重。
等分 兩部分
稱一下
隨便去一部分再稱
1，如果取重的一部分
1。1 相等 則輕
1。2 不等 則重
2。如果取輕的一部分
2。1 相等 則重
2。1 不等 則輕
11.證明題：給出n個互不相同的分數(shù)數(shù)列a1/b1, a2/b2… an/bn ，證明(a1 + a2 + … + an) / (b1 + b2 + … + bn) 的值在數(shù)列a1/b1, a2/b2… an/bn 數(shù)列的最大值和最小值之間。
12. 證明題：在三角形中，假設(shè)等角對等邊，證明大角對大邊。
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