利用薄膜量熱計測量高功率Z箍縮軟X射線總能量

介紹一種采用脈沖恒壓電源驅動的鎳薄膜量熱計,研制了測量系統和鎳薄膜探測器,對探測器的電阻-溫度特性進行了實驗標定,該量熱計已成功應用于測量"強光一號"加速器高功率Z箍縮等離子體軟X射線總能量,分析了測量不確定度.

作 者： 王文生 何多慧 邱愛慈 蒯斌 羅建輝   作者單位： 王文生(中國科學技術大學,國家同步輻射實驗室,安徽,合肥,230026;西北核技術研究所,陜西,西安,710024)

何多慧(中國科學技術大學,國家同步輻射實驗室,安徽,合肥,230026)

邱愛慈,蒯斌,羅建輝(西北核技術研究所,陜西,西安,710024) 

刊 名： 強激光與粒子束  ISTIC EI PKU 英文刊名： HIGH POWER LASER AND PARTICLE BEAMS  年，卷(期)： 2003 15(2)  分類號： O536 O434.12  關鍵詞： 等離子體   Z箍縮   軟X射線診斷   量熱計  

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