單片微控制器系統的靜電放電敏感性研究

分別以2種常用的微控制器芯片80C196和AT89C51為核心設計的2種單片微控制器系統做為目標測試板,利用靜電放電電磁脈沖分別對這2種系統進行靜電放電效應實驗研究,并對其失效機理進行分析.實驗結果表明, 80C196單片微控制器系統對靜電放電比89C51單片微控制器系統敏感,單片機系統在靜電放電電磁脈沖作用下出現死機、跳轉、重啟動、RAM內容改寫等功能失效現象.

作 者： 宋學君 張希軍 劉尚合 SONG Xue-jun ZHANG Xi-jun LIU Shang-he   作者單位： 宋學君,SONG Xue-jun(軍械工程學院,靜電與電磁防護研究所,河北,石家莊,050003;河北師范大學,物理科學與信息工程學院,河北,石家莊,050016)

張希軍,劉尚合,ZHANG Xi-jun,LIU Shang-he(軍械工程學院,靜電與電磁防護研究所,河北,石家莊,050003) 

刊 名： 河北大學學報（自然科學版）  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF HEBEI UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE EDITION)  年，卷(期)： 2007 27(6)  分類號： O441  關鍵詞： 單片機系統   靜電放電   電磁脈沖敏感性  

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