美國光學特性測量技術發展情況及特點

簡要介紹了美國地基、空基、天基光學特性測量技術的發展情況,對其在光學特性測量技術領域發展的特點給予了分析、總結.

作 者： 邢強林 譚謙 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia   作者單位： 北京跟蹤與通信技術研究所·北京·100094  刊 名： 飛行器測控學報  ISTIC 英文刊名： JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2007 26(1)  分類號： V556.5  關鍵詞： 光學特性測量   紅外輻射特性測量   光譜特性測量  

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