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美國光學特性測量技術發展情況及特點

時間:2023-04-27 19:02:16 航空航天論文 我要投稿
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美國光學特性測量技術發展情況及特點

簡要介紹了美國地基、空基、天基光學特性測量技術的發展情況,對其在光學特性測量技術領域發展的特點給予了分析、總結.

作 者: 邢強林 譚謙 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia   作者單位: 北京跟蹤與通信技術研究所·北京·100094  刊 名: 飛行器測控學報  ISTIC 英文刊名: JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY  年,卷(期): 2007 26(1)  分類號: V556.5  關鍵詞: 光學特性測量   紅外輻射特性測量   光譜特性測量  

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