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美國光學特性測量技術發展情況及特點
簡要介紹了美國地基、空基、天基光學特性測量技術的發展情況,對其在光學特性測量技術領域發展的特點給予了分析、總結.
作 者: 邢強林 譚謙 唐嘉 XING Qiang-lin TAN Qian TANG Jia 作者單位: 北京跟蹤與通信技術研究所·北京·100094 刊 名: 飛行器測控學報 ISTIC 英文刊名: JOURNAL OF SPACECRAFT TT & C TECHNOLOGY 年,卷(期): 2007 26(1) 分類號: V556.5 關鍵詞: 光學特性測量 紅外輻射特性測量 光譜特性測量【美國光學特性測量技術發展情況及特點】相關文章:
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