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近距離DPIV粒子成像分析
在PIV(Particle Image Velocimetry)近距離拍攝中,通過對在非傍軸成像條件下薄透鏡成像公式的推導,求得粒子圖像成像點的近似解析解,對粒子圖像的成像位置在PIV圖像計算中的影響作了討論;同時也對已知直徑粒子進行了試驗拍攝,將試驗所得的數據與理論推導的結果進行了比較,對在近距離拍攝中光圈對粒子成像的影響給出了定量分析.
作 者: 魏潤杰 申功 丁漢泉 作者單位: 魏潤杰,申功(北京航空航天大學飛行器設計與應用力學系)丁漢泉(北京航空航天大學理學院)
刊 名: 北京航空航天大學學報 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF BEIJING UNIVERSITY OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS 年,卷(期): 2001 27(6) 分類號: P234.1 關鍵詞: 相對孔徑 近景攝影 成像 粒子圖像測速【近距離DPIV粒子成像分析】相關文章:
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