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Bi 2223帶材的臨界電流及交流損耗研究
測量了77K溫度下不同基體材料和不同芯數帶材的臨界電流和交流損耗.分析了彎曲應變對它們的影響.結果表明單芯樣品的不可逆應變小于0.15%,而多芯樣品的不可逆應變在0.1%到0.3%之間,多芯導體的機械性能比單芯導體的好,增加芯數可以提高機械性能,金屬包套材料對超導芯起到了增強的作用,它防止了超導芯中裂紋的進一步傳播.自場損耗隨外加應變的增加而增加, 這種大幅度的增加與應變使帶材的臨界電流急劇減小直接相關.
作 者: 胡立發 A Sulpice P Dixador 張平祥 李成山 紀平 滕鑫康 汪金榮 馮勇 周廉 作者單位: 胡立發(西北有色金屬研究院超導材料研究所,西安,710016;東北大學材料冶金學院,沈陽,110006)A Sulpice,P Dixador(Centre de Recherches sur les Tres Basses Temperatures, Centre National dela Recherche Scientifique, Grenoble, France)
張平祥,李成山,紀平,滕鑫康,汪金榮,馮勇,周廉(西北有色金屬研究院超導材料研究所,西安,710016)
刊 名: 物理學報 ISTIC SCI PKU 英文刊名: ACTA PHYSICA SINICA 年,卷(期): 2002 51(8) 分類號: O4 關鍵詞: 高溫超導體 臨界電流 交流損耗【Bi 2223帶材的臨界電流及交流損耗研究】相關文章:
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