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上海光源儲存環直流流強監測系統設計
上海光源儲存環調試運行需要一個分辨率達到微安量級的直流流強監測系統.為此設計完成的硬件系統包含一個Bergoz公司NPCT型探頭、一個NI公司PXI總線數字電壓表模塊以及一個PXI總線的輸入輸出控制器.數據采集處理軟件在LabVIEW平臺上開發,與控制系統的接口通過EPICS Shated Memory IOCcore技術實現.實驗室測試及仿真結果表明該系統直流流強測量分辨率可達2微安,束流壽命相對測量精度可望達到0.5%.
作 者: 冷用斌 周偉民 陳永忠 趙國璧 余俊 劉德康 LENG Yongbin ZHOU Weimin CHEN Yongzhong ZHAO Guobi YU Jun LIU Dekang 作者單位: 中國科學院上海應用物理研究所,上海,201800 刊 名: 核技術 ISTIC PKU 英文刊名: NUCLEAR TECHNIQUES 年,卷(期): 2007 30(6) 分類號: O572.21 關鍵詞: 上海光源 直流流強變壓器 EPICS 束流壽命【上海光源儲存環直流流強監測系統設計】相關文章:
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